Государственный технологический университет

“Московский институт стали и сплавов”

Кафедра физического материаловедения

Главная

Кафедра рентгенографии

Учебные материалы

Кристаллография, рентгенография и электронная микроскопия (КРЭМ)

Материалы для конспектов и бланки для лабораторных работ

Кристаллография

(! New) Раздаточные материалы по кристаллографии

Стереографические проекции

Индексы плоскостей и направлений. Зона плоскостей. Межплоскостные расстояния. Совокупность плоскостей.

Стандартные проекции.

Определение класса симметрии по моделям многогранников. Бланк.

Определение пространственной группы по модели кристаллической структуры. Бланк.

Кристаллохимический анализ модели кристаллической структуры.

Рентгенография

Рентгенотехника. Рентгеновские трубки, аппараты.

Определение ориентировки кристалла по лауэграмме.

Определение типа решетки Бравэ по рентгенограмме вращения.

Теоретический расчет относительной интенсивности линий чистого элемента и сравнение результатов расчета с экспериментом.

Определение структурного типа соединения АВ по дифрактограмме поликристалла. Бланк.

Электронная микроскопия

Методические указания для выполнения домашнего задания «Расчет концентраций элементов по данным МАР»:

Дьяконова Н.П., Иванов А.Н., КРЭМ. Раздел: Микрорентгеноспектральный анализ, М., МИСиС, 1991, № 412.

Определение химического состава по спектрограмме. Бланк

Дополнительные материалы

Сетка Вульфа в формате PostScript на странице формата A4. Радиус сетки 10 см.

(Предупреждение: при переводе файлов *.ps в другие форматы возможно искажение размеров и снижение точности рисунка! Перед использованием проверьте радиус сетки.)

Ссылка на PostScript и Ghostview: http://www.cs.wisc.edu/~ghost/