Национальный исследовательский технологический университет

"МИСиС"

 

Кафедра физического материаловедения

 

 

 

 

Кристаллография, рентгенография и электронная микроскопия (КРЭМ) для групп ФХ –  2, 3

 

 

 

Расписание занятий:

Лекция     –                         суббота  10:50 ауд. Б734

 

Лабораторные работы – суббота 12:40  ауд. Б409 (ФХ–2,3)

Материалы по курсу КРЭМ ч.3 (осенний семестр)

 

Календарный план курса КРЭМ ч.3 (2013 г.)

 

Конспекты лекций:

Рентгенографический анализ кристаллографических текстур

Электронография и нейтронография

Просвечивающая электронная микроскопия

 

Методические указания для выполнения домашнего задания «Расчет концентраций элементов по данным МАР»:

Дьяконова Н.П., Иванов А.Н., КРЭМ. Раздел: Микрорентгеноспектральный анализ, М., МИСиС, 1991, № 412.

 

Вопросы к контрольной работе №1

Вопросы к контрольной работе №2

 

Вопросы к контрольной работе №3

 

Материалы по курсу КРЭМ ч.2 (весенний семестр)

 

Календарный план курса КРЭМ ч.2  (2011 г.)

 

Вопросы к контрольной работе №1

Вопросы к контрольной работе №2

Вопросы к контрольной работе №3

 

Материалы к экзамену в весеннем семестре:

Экзаменационный билет содержит два теоретических вопроса и одну задачу.

 

Вопросы к билетам (pdf)

 

 

Материалы по курсу КРЭМ ч.1 (осенний семестр)

 

Календарный план курса КРЭМ ч.1

 

Вопросы к контрольной работе №1

Вопросы к контрольной работе №2

 

Вопросы к контрольной работе №3